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                Z轴电动金相工具显微镜

                快速完成图像采集、测量、报告

                满足从日常检测到复杂分析的不同分析应用要求

                仪器特点

                微米测量研发的Z轴电动金相工具显微镜具备明暗场【、微分干涉、偏光等多种观察功能,可广泛应用于半导体、焊接贴片、FPD面板、PCB、LCD、手机产☆业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测,是尼康、奥林巴斯手动金相工具显微理想替代产品。

                Z轴电动金相工具显微镜使用高精密移动平台¤结合数据处理软件进行尺寸测量,使用数字相机进行实时影像◆处理、观察以及拍照,实现对产品的尺寸以及外观的检查。

                设备可以满足从日常检测到】复杂分析的不同分」析应用的要求,快速完成图像采集、测量、报告。

                型号参数

                型号

                WM321JXA/ WM431JXA

                移动范围

                300mm*200mm*100mm/400mm*300mm*100mm

                最小█显示值

                0.0001mm

                X、Y轴移动方式

                手动位移

                Z轴△升降方式

                自动对焦升降(伺服电机)、最小位移量:0.0001mm

                主机

                照明系统

                冷光源照明、10W LED透射照明

                转换器

                五孔物镜转盘(带DIC插槽)

                数据处理器

                WM-10

                光学镜筒

                三目光学镜筒

                目镜

                WF10X/22

                光学系统

                无限远光学系统

                明场物镜

                LWDPLAN 5X:数值孔径(N.A) 0.14,平场长工作距离光学物镜:10.8mm

                LWDPLAN 10X:数值孔径(N.A)0.25,平场长工作距离光学物镜:10.0mm

                LWDPLAN 20X:数值孔径(N.A) 0.40,平场长工作距光学物镜:4.0mm

                CCD

                HDMI接口高清数▼码相机

                测量软件

                WeiMi-JX

                工作台承重

                35KG

                仪器外形尺寸

                900*700*980mm/1000*800*980mm

                选购件

                50X、100X物镜、暗场物镜、偏光、DIC模块(微分干涉装置)

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